粉體行業在線展覽
TFX-R1———光學膜厚測量設備
面議
睿勵科學
TFX-R1———光學膜厚測量設備
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l 可量測多種材料薄膜
l 提供薄膜可靠和精確的厚度、折射率、成分比率和應力測量
l 輸出產能高,具有較高的性價比
l 光斑尺寸更小
l 可量測范圍更寬廣,超厚膜和超薄膜量測能力更穩定
l 全新橢圓偏振光路設計
l 機械運動性能可靠,穩定性表現**
l 功能豐富、易用的軟件和算法
l 全面支持工廠自動化要求
電腦組合體系VG42
UNI800C多物料配料控制儀
在線HPXRF檢測設備
PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學測量系統
金屬稱重檢測一體機
BSD-PB(氣液法)
片式電容四參數測試機
0~10%糖度
三路浮子流量計 MFC-3F
Oilwear 在線油液清潔度檢測儀
GJT-2F系列金屬探測儀