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質構儀探頭-食品類專用探頭 TA/KIE
該裝置由一個面團處理模具，一個固定裝置以及一個拉鉤組成。該裝置可用于測量面條的斷裂強度，通過探頭向上移動可以測量面條的拉伸強度。
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