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德國KSI超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)i-Wafer

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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

德國

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德國KSI-凱斯安i-Wafer型

全自動(dòng)晶圓超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)

i-Wafer系列是一款高端儀器，操作人員可選擇接收/拒絕標(biāo)準(zhǔn)，手動(dòng)或自動(dòng)檢測(cè)晶圓。在KSI i-Wafer的探測(cè)下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質(zhì)都能被發(fā)現(xiàn)。尺寸在450mm的多種晶圓也能進(jìn)行檢測(cè)

新型KSI i-Wafer晶圓缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的主要特點(diǎn)：

- 掃描速度高達(dá)2000mm/s

- 新型換能器

- 高質(zhì)畫面

- 同時(shí)使用1只、2只、4只換能器提高效能

- 能發(fā)現(xiàn)只有幾微米的缺陷

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德國KSI超聲波缺陷檢測(cè)系統(tǒng)i-Wafer

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