粉體行業在線展覽
面議
927
飛行時間法(TOF)測量是表征有機半導體材料載流子遷移率的關鍵,TOF1000飛行時間測量系統基于脈沖激光和高速測量電子學進行標準飛行時間實驗;有助于載流子遷移率隨溫度變化的研究.
原理圖:
結構配置圖:
測量軟件:
XRD-晶向定位
CVD 真空化學氣相沉積設備
等離子體增強化學氣相沉積系統CVD
自動劃片機
BTF-1200C-RTP-CVD
Gasboard-2060
Pentagon Qlll
等離子化學氣相沉積系統-PECVD
定制-電漿輔助化學氣相沉積系統-詳情15345079037
HSE系列等離子刻蝕機